Princípio de medição : espectrofotômetro de feixe duplo com porta para cima ou porta para frente
Geometria : 45°a:0° Óptica iluminada anular, ASTM E1164
Espectrofotômetro : Óptica selada; matriz de diodos de 256 elementos e uma grade holográfica côncava de alta resolução
Diâmetro da porta/diâmetro de visualização : 31,8 mm (1,25 pol.) iluminado/ 25,4 mm (1 pol.) medido
Componente especular : Excluído
Faixa espectral : Faixa: 400 nm – 700 nm
Resolução espectral : < 3 nm
Largura de banda efetiva : triangular equivalente a 10 nm
Intervalo de Relatório : 10 nm
Faixa fotométrica : 0 a 150%
Fonte de luz : lâmpada flash de xenônio de espectro total
Duração da medição : 1 segundo
Vida útil da lâmpada : 10 anos típico
Iluminação D65 : Iluminação D65 (luz do dia) calibrada e controlada
Conformidade com as normas : CIE 15:2018, ASTM E1164, DIN 5033, Teil 7 e JIS Z 8722 Condição C
Rastreabilidade de padrões : atribuição de padrões de instrumentos de acordo com o Instituto Nacional de Padrões e Tecnologia (NIST), seguindo as práticas descritas na Publicação 44 da CIE e ASTM E259